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Probe测试
在显微镜底下，利用探针搭接于IC内部线路，使其可以外接各类设备，以便量测或输入讯号。宜特科技目前拥有的探针与应用相关讯息如下:
探针分为硬针、软针及Active Probe。硬针之针尖主要规格为1 μm及5 μm；软针之针尖为 < 1 μm，主要应用在高频电路及FIB probing PAD及Active Probe(200 MHz)。
当分析样品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等仪器却无无适当治具或socket可用时，可由点针方式提供讯号输入输出。
Wafer可搭配Probe card做各项测试。
实验室另架设有 Laser system ,可做Laser cut。
关于宜特：
iST始创于1994年的**，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。