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Keithley 参数分析仪
操作简易量测快速的 KEITHLEY 4200-SCS 半导体特性系统提供实验室级的DC组件及导体组件特性量测、电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)、实时曲线绘图(IV-CURVE) 、高精确性及Sub-fA 高分辨率的量测分析。KEITHLEY 4200 将大部分的功能都整合在一个系统里，包含了PC，Windows NT Operation System，Hard disk超大的数据储存空间。KEITHLEY 4200 的随点即用的Windows接口加快及简化了读取资料步骤，所以使用者可以很快分析结果，内建的强大测试工具可以让测试方法标准化以确保相同的测试结果。
应用：
DC组件及导体组件特性量测
电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)
辅助后续电性测试(Force V measure I / Force I measure V)
机台限制:
具多4 Channels、特高电压100 V、特大限流100 mA，功率为2 W。
简易：随点即用的Windows操作环境.操作简单.存盘方便(可直接储存图文件及data数据文件)。
高解析：有特殊的讯号放大器可使SMU分辨率达至0.1fA。
快速：使用PC操作系统提供快速的测试设定，强大的数据分析及绘图，打印功能及庞大的硬盘储存空间。
多功能：特殊的浏览式项目导览器将测试依组件分类，并允许多项测试及提供测试流程及循环控制。
扩充性佳：自订测试模块功能可以延伸KITE控制其它外部仪器及整合测试项目。
关于宜特：
iST始创于1994年的**，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。